Werne & Thiel水分测定仪、Werne & Thiel密度计、Werne & Thiel传感器

“Werne & Thiel sensortechnic”公司的目标不仅是开发创新和高档的产品，而且还要追求整体和以客户为导向的方法。这是“Werne & Thiel sensortechnic”获得卓越市场定位和全球认可度的原因之一。另一个原因是与员工的密切关系。积极进取的员工是我们寻找新的解决方案策略和升级产品以应对全球市场挑战所需要的。

Werne & Thiel OLAS - 吸收测定和密度测量

由“Werne & Thiel GbR”公司制造的光学光吸附传感器（OLAS）将光发送到感兴趣的材料（介质）中，并利用精确测量的光吸收来确定介质的成分。通过这种方法，不仅可以确定水浆、悬浮液和各种复合材料（例如水泥浆、化学纸浆等）的成分，还可以确定箔和涂层的厚度等。无论在生产、制造或加工过程中，任何导致介质吸收变化的因素都可以由OLAS测量、监测和控制。

Werne & Thiel 混凝土残余水中的密度测量

OLAS测量系统是一种用于测定混凝土循环水固体含量的在线测量系统，其开发始于近十年前。如今，已经开发出一种可靠且经济的测量系统，该系统已达到批量生产成熟度。OLAS以其功能命名：“光学光吸收传感器”。OLAS利用复杂的红外吸收测量方法，其中测量光通过光纤引入介质中。如果需要，OLAS可以由OLASTPC（OLAS触摸屏控制器）补充，这是一个最佳的评估，显示和控制单元，以形成一个完整的测量系统。

Werne & Thiel OLAS - 功能性原则和特定特性：

由“Werne&Thiel GbR”公司制造的光学光吸附传感器（OLAS）将光发送到感兴趣的材料（介质）中，并利用精确测量的光吸收来确定介质的成分。通过这种方法，不仅可以确定水浆、悬浮液和各种复合材料（例如水泥浆、化学纸浆等）的成分，还可以确定箔和涂层的厚度等。无论在生产、制造或加工过程中，任何导致介质吸收变化的因素都可以由OLAS测量、监测和控制。

发射器和接收器之间的距离：

由于光吸收因应用而异，因此OLAS的光路可以适应感兴趣的介质：高吸收介质需要在发射器和接收器之间保持较小的距离，以允许足够的强度到达接收器，而对于低吸收介质，另一方面，发射器和接收器之间的距离必须大得多。

根据1...10的内部信号，OLAS可以处理高达000到000，0，700的光强度变化。“0”是测量完全非吸收介质时的结果，而“700”表示最大吸收。

现在的关键任务是为每个感兴趣的介质选择发射器和接收器之间的距离，以便使用“0...700”的整个测量范围。这可能意味着，对于高吸收介质，距离只有几毫米，而对于低吸收介质，距离可以是一米甚至更长。

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抑制环境光：Werne & Thiel OLAS 对环境光的抑制能力非常高。不仅恒定光（阳光等）被抑制，而且调制光，例如荧光灯的光。

如果光学器件完全浸入介质中，环境光无论如何都不会起作用，因为环境光被吸收介质高度吸收。但有时，如果发射器和接收器之间的距离比测量介质的厚度更远，例如，如果测量箔的厚度或类似，那么，尽管如此，在某些应用中，环境光最终可能会到达接收器，而测量光的强度可能相当低。即便如此，在大多数情况下，OLAS对环境光的抑制也足够高，除非您直接通过强光源（例如强荧光灯）使接收器失明。

很容易找出您的应用中的环境光抑制是否足够高：将高吸收介质引入发射器和接收器之间的光路，并将“触摸面板控制器”（TPC）“关闭”的平均时间设置为“关闭”。在“记录器”模式下，现在应该可以看到恒定的读数，也许叠加了一些小的噪声峰值。现在，降低环境光的强度，并确保读数是否在变化。如果有变化，您应该以合适的方式将光学器件遮挡在环境光下。但请记住，平均法也将极大地减少环境光的影响。

测量范围：Werne & ThielOLAS 只需要一个测量范围即可覆盖 1：10，000，000（内部甚至 1：100，000，000）的整个动态范围。因此，测量时无需在多个测量范围之间切换。这消除了开关期间没有有效信号时不可接受的死区时间。仅使用一个测量范围使OLAS非常快速和精确：信号瞬时变化的建立时间（10，000，000：1）仅为约30毫秒！如果必须测量快速变化介质的吸收，例如，当不均匀介质通过管道泵送并将 OLAS 安装在那里时，快速稳定时间至关重要。

光学元件污染：

许多其他光学测量系统在光学元件上存在污垢和划痕的严重问题，因为这种污染会导致额外的和高度不必要的光吸收。这是有问题的，因为对于这些产品，污染物很容易吸收与介质本身一样多的光，从而导致相当大的测量误差。

由于 OLAS 设计用于处理极高吸收介质，因此 OLAS 不易受到光学元件的污染，因为培养基通常吸收的光比污染多得多。因此，通常情况下，光学元件上的污染对OLAS测量精度的影响可以忽略不计。

为了进一步减少这种影响，例如在测量高磨蚀性介质时，客户可以根据需要订购“老化”光学器件。

偏移调整：有时，在客户校准Werne & Thiel OLAS后，必须更换或更换光学元件。之后是否要再次校准 OLAS？

不一定：之后发射器和接收器之间的距离是否与以前完全相同（从窗口到窗口），那么OLAS提供了一种独特的偏移调整方法，只需要稍后进行更改即可进行补偿。客户完成的初始校准仍然有效，不需要任何更改！

这种偏移-调整方法需要在进行初始校准时确定 OLAS 应用的附加特征参数，称为“初始吸收”：将

OLAS 的光学元件放入众所周知的吸收介质（例如清水）中，并测量和存储此“初始吸收”。之后调整偏移时，由于随后更改或更换了OLAS的组件，请将OLAS的光学元件再次带入该定义的介质中。现在，OLAS 计算“初始吸收”的差异（偏移！）并存储此“偏移”。然后通过从测量值中减去该偏移来校正所有后续测量值。客户完成的初始校准仍然有效！这种偏移调整可以根据需要随时进行。

当然，这种偏移调整方法也可用于校正光学元件上污染（污垢、划痕等）的影响。

这种偏移调整方法的关键点是，发射器和接收器之间的距离（具体来说，屏蔽介质的厚度）必须始终完全相同。如果发射器和接收器之间的距离因任何原因发生变化，则初始校准不再有效！